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表面粗糙度仪通过探针或光学传感器扫描被测表面，采集表面微观起伏的几何数据，再经内部算法处理，计算出符合国际标准的粗糙度参数（如Ra、Rz、Rq等）。常见测量方式包括：
接触式测量：探针（如金刚石触针）直接接触表面，通过位移传感器记录探针的垂直移动轨迹，精度高但可能划伤软质表面。
非接触式测量：利用激光、光学干涉或共聚焦原理，通过分析反射光或干涉条纹的变化获取表面形貌，适用于软质、易变形或超光滑表面。
